Ваша оценка
Общий рейтинг
0,0
0 оценок
Рекомендации
0
Кратко изложены основы сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, электросилового микроскопа, магнитно-силового микроскопа, ближнепольного оптического микроскопа), наиболее широко используемых в научных исследованиях. Для студентов факультета радиоэлектроники и автоматики. Может быть полезно специалистам, разрабатывающим наноустройства.

Рецензии 0

Этот сайт использует cookies для улучшения качества обслуживания. Мы используем cookies, чтобы обеспечить лучшее взаимодействие.